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aixPES-DR鐵電自放電測試儀
本設備主要用來研究電介質材料的自漏電性。由于測試條件非常接近實際情況，因此通過這種方式可容易地測試應用于DRAM材料的合適性。技術說明：
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TF Analyzer 3000鐵電壓電分析儀
TF Analyzer 3000鐵電壓電分析儀 TF ANALYZER 3000E是一款擴展性的高速型模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探...
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TF Analyzer 2000E鐵電壓電分析儀
TF ANALYZER 2000E是一款擴展性的模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯用，可廣泛地應用于如各種鐵電/...
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TF Analyzer 1000鐵電壓電分析儀
鐵電壓電分析儀 TF Analyzer 1000TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電材料所有基本特性測試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯...
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FeRAM鐵電隨機存儲器測試儀
內存窗口信息是基于對器件*集成后進行模擬電滯回線測量后得出的。應用領域：鐵電存儲器的生產生產過程中的質量控制，以便不會影響到CMOS生產過程在MHz的操作速度下，單級電滯回線數據優點：生產過程的工藝優...
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鐵電遲豫電流測試儀 aixPES-RX
本設備主要用來研究電子陶瓷材料的遲豫性能，也就是介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應。該測試能將材料的馳豫電流和漏電流分開，并可記錄極化響應電流和去極化響應電流。技術說明：
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雙光束激光干涉儀 aixDBLI
雙光束激光干涉儀專門用于壓電薄膜的蝴蝶曲線和縱向壓電系數d33的測試。這一臺適合于從小尺寸薄膜到8英寸晶圓表征的雙光束激光干涉儀。半自動的系統用于8“晶圓上的MEMS器件的壓電性和電性相關性能的測試。...
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熱釋電性能測試儀 aixPYM
熱釋電性能測試儀 aixPYM(Pyroelectric Measurement)本系統主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃；塊體材料變溫范圍：室溫到2...
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熱激發極化電流測試儀 TSDC
熱激發極化電流測試儀 TSDC(Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)本系統除了可以測試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以...
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熱電性能測試儀 COMTESSE
熱電性能測試儀 COMTESSE(Thermoelectric Measurement)本系統主要用于熱電性能測試。包括：熱導率thermal conductivity, 電導率electrical ...
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機電薄膜e31測試儀 aix4PB
機電薄膜e31測試儀 aix4PB(Electromechanical thin film e31 analyzer )薄膜材料的機電性能是MEMS器件設計的關鍵性能，縱向壓電系數d33和橫向壓電系數...
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高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800
高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800本系統主要用于高溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機電性能的表征。壓電測試溫度可以達到室溫到600℃或室溫到800℃兩種溫度范圍。大信號和小信號材料的...
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