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JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺是我司自主研發的一款在環境下給樣品加載電學信號的設備。可以實現 器件及材料表征的IV/CV特性測試，射頻測試，光電測試等。通過液氮或者壓縮機制冷，可以在防輻射屏內營造一個穩定的測試環境。在特殊材料，半導體器件等研究方向具有廣泛運用。

JKZC-UC系列高低溫探針臺是一款在非真空條件下實現低溫環境的測試探針臺。該產品釆用液氮或者空氣壓縮機制冷 ,自動控溫，設備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室，一方面可以屏蔽無線電磁干擾，另外一方面也可以保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜。此設備對于一些有溫度需求的測試，尤其是低溫，運用非常廣泛。

JKZC-DSH系列探針臺是我司自主研發的一款雙面探針臺，最大可完成12英寸晶圓的正反面點針測試。在具備常 規探針臺的功能基礎上,可用于晶圓和PCB板的測試，對晶圓或者PCB板正面和背面同時扎針以實現各種 光/電性能測試需求的測試，或背面點針，正面收集光線等,運用十分豐富。該定制探針臺具有優良的機械系統，穩定的結構，符合人體工程學，以及多項升級功能。

JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實驗室而研發的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊，設計精密，價格實惠，配置靈活，高性價比。在高等院校教學和小型實驗室科研過程中得到了廣泛運用，配合對應的儀器儀表，用于測試各類器件的IV、CV、l-t、V-t,光電信號，1/f噪聲測試，器件表征測試，RF射頻等。如 果您的測試器件pad電極大于50um,此系列探針臺。